該應用報告顯示，***維LYNXEYE探測器可以與線聚焦的X射線光管結合起來，有效地監測樣品制備的質量，而無需昂貴的二維探測器。而二維探測器的真正優勢在于，將點聚焦的X射線光管和可變的樣品到探測器的距離相結合，可以進行定量的粉末衍射、應力和織構分析。然而，這需要具有***定尺寸的二維探測器，這在臺式X射線衍射儀上通常是不可行的。

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 D6 PHASER二維衍射實現方法

D6 PHASER提供了反射幾何下的兩種二維衍射實現方法，Bragg-2D和Phi-1D掃描方法。Bragg-2D測試中不需要移動樣品，相反地，通過選擇較大的入射光路發散度，將樣品大面積暴露在X射線束下，并在Δ? vs. 2Theta空間中可視化展現來自不同晶粒的衍射信號。而Phi-1D方法則需要使用旋轉樣品臺，使用較窄的X射線束照射樣品，探測器定位在特定的2Theta峰位置，通過旋轉樣品同時連續探測器快照拍攝來對晶粒進行成像。相應的X射線衍射儀樣品臺配置如圖1所示。

 射。

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 例1

圖2顯示了粗晶粒粉末樣品的二維衍射圖，包含大量的不連續斑點。在常規的***維粉末衍射測量中，衍射信號將沿著衍射線進行積分，用戶不會意識到樣品粒度是不均勻的。而現在得益于快速的二維衍射測量，用戶認識到在進行定量的***維XRD測量之前，樣品應該被更細的粉碎。

圖2. DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖樣品的Phi-1D掃描。

圖像的水平軸對應于Phi旋轉，而垂直軸顯示探測器快照。數據采集使用D6 PHASER 600W, Co靶，K-beta濾波器，2.5°Soller準直器，可變發散狹縫(恒定開口，0.25 mm)，無空氣散射屏。使用LYNXEYE-2探測器進行連續phi掃描，步長0.9度，曝光時間1秒，總掃描時間401秒，探測器***大2Theta開口4.97°。

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 例2

第二個例子(圖3)展示了小晶粒的優先取向情況。垂直線顯示了較寬的強度調制，然而對于完全隨機取向的材料來說，強度應該是恒定的。此外，衍射信號具有不同的寬度，表明存在微觀應變。對于該測試鋁箔，只有通過樣品的不同取向測試才能獲得更好的平均信號。相對應地，在測量粉末樣品時，在樣品制備過程中應盡量重新定向晶體使其更加取向隨機，或者用較小的接觸壓力將粉末壓實。

▲圖3. DIFFRAC.EVA軟件二維展示使用Co特征X射線測量的軋制鋁板樣品的Phi-1D掃描圖譜

(文章來源于儀器網)