美國solar Metrology SMX-BEN太陽能光伏薄膜電池鍍層測厚儀
價 格：詢價
產 地：美國更新時間：2020-11-05 11:52
品 牌：Solar Metrology型 號：SMX-BEN
狀 態：正常點擊量：1845
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1. 全球唯***能提供NIST等***的標準樣品，與美***NREL共同合作。
2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數，可設定多點分析，以確定制程品質。
4. 針對CIGS各種鍍層材質的濾光片，共5種
5. X-Y-Z三軸自動定位，軸承***長距離為8”X8”X6”，并有自動聚焦弁?/div>
6. 具有表面相對等距自動調整系統
7. 采用自然光，LED白光，無色差
8. 采用***新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器
9. 具有防撞安全裝置
10. 具有操作時輻射安全裝置
11. 可將實驗室建立的數據直接復制至線上檢測機臺上。
產品參數
美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
X射線發生部 | 電壓 | 最大50kV，多段電壓切換 |
電流 | 4-1000μA，可做自動調整設定 |
準直器 | 共五個 |
偵測器 | Pin or Si |
檢測器 | 冷卻方式 | 電子冷卻 |
五種濾波器自動切換 | |
電源 | AC110~240V, 50/60 Hz |
| 鍍層厚度分析 |
(1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。
(2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。
(3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。 |
產品介紹
美***solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
其他型號：
薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯***能提供NIST標準樣品，快速(60秒內)非破壞檢測。
生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產製程端整合。
即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。
滬公網安備31011502016460號
