高速分析型場發射掃描電鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:21
品 牌：型 號：JSM-7200F
狀 態：正常點擊量：1771
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
JSM-7200F是日本電子株式會社(JEOL Ltd.)于2015年推出的***款多功能、簡單易用的分析型場發射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米***圖像顯微分析與微區化學成分分析的理想選擇。
通過內的*佳光闌角控制透鏡技術，JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現100nm以內的高空間分辨率分析。
JSM-7200F/LV配有大樣品倉，非常適合于搭載的能譜儀、波譜儀、EBSD相機、CL陰極發光探測器、拉伸臺、EBL以及SXES（JEOL技術，通過探測低能量的波長從而獲得樣品的化學價態信息）等分析探測器。同時，JSM-7200F具有抽屜式樣品倉可以安裝諸如加熱、拉伸以及冷凍樣品臺進行原位分析。
滬公網安備31011502016460號
