TP200

具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應變片機構，比機械結構式觸發測頭的壽命更長、精度更高。

TP200系統組件包括：

TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另***款，允許更大振動公差）
TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
PI 200-3測頭接口
SCR200測針交換架

還有***種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。

特性與優點

應變片技術具有無可比擬的重復性和精確的三維輪廓測量
零復位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達100 mm（GF測針）
測頭模塊快速交換，無需重新標定測尖
壽命 >1000萬次觸發

TP200/TP200B測頭本體

TP200采用微應變片傳感器，實現優異的測量重復性和精確的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。

傳感器技術提供亞微米***的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。

TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

規格摘要	TP200	TP200B
主要應用	用于需要高精度的數控坐標測量機。	與TP200***樣，但當出現誤觸發事件時。
感應方向	六軸：±X、±Y、±Z	六軸：±X、±Y、±Z
單向重復性 (2σ µm)	電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm	電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm
XY（2D）輪廓測量偏差	電平觸發1： ±0.80 µm 電平觸發2：±0.90 µm	電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.2 µm
XYZ (3D) 輪廓測量偏差	電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.40 µm	電平觸發1：±2.50 µm 電平觸發2：±4 µm
測針交換的重復性	SCR200：±0.50 µm（）手動：±1 µm（）	SCR200：±0.50 µm（）手動：±1 µm（）
測力（測尖）	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N
越程測力（位移為0.50 mm時）	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測頭傳感器和模塊）	22 g	22 g
*長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上）	300 mm	300 mm
推薦的測針長度（M2測針系列）	SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF	SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF
安裝方式	M8螺紋	M8螺紋
適合的接口	PI 200-3、UCC	PI 200-3、UCC
測針模塊交換架	自動：SCR200 手動：MSR1	自動：SCR200 手動：MSR1
測針系列	M2	M2

TP200測針模塊

測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。

有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的越程測力。

模塊	SF（標準測力）	LF（低測力）	EO（長過行程）
應用程序	***般使用。	小直徑測球或必須使用*小測力的場合。	額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。
注釋	測針*長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。	測球直徑小于1 mm。	與SF的過行程測力相同。測頭Z軸的額外過行程為8 mm。

模塊

SF（標準測力）

LF（低測力）

EO（長過行程）

應用程序

***般使用。

小直徑測球或必須使用*小測力的場合。

額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

注釋

測針*長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。

測球直徑小于1 mm。

與SF的過行程測力相同。